基于type-c公母頭雙排SMT平面度CCD視覺檢測(并列分布或交叉分布)測量方法
并列分布
檢測難點在于:前排SMT腳被后排SMT腳完全遮擋,并且不在同一焦距上。
解決方法:相機正對產品方向偏移10-15°并采用遠心鏡頭,防止聚焦模糊不夠清晰。
因不在同一焦距上,數據標定會存在一定差異,需要在CCD軟件內部針對每個數
據進行單個補償。
交叉分布
檢測難點在于:前后兩排SMT腳不在同一焦距上。
解決方法:采用遠心鏡頭,防止聚焦模糊不夠清晰。
因不在同一焦距上,數據標定會存在一定差異,需要在CCD軟件內部針對后排數
據進行單個補償。